JT CORP


제품소개 Ongoing Investment in Technology and R&D

LED Probe

JCP-3000
Test Handler > LED Probe

JCP-3000
∙ 다양한 종류의 LED Chip Vision Inspection을 적용한 자동화 분류 장비
∙ Wafer-probing Test를 통한 Chip 성능 측정
∙ Probe Pin Contact에 의한 전기적, 광학적 특성을 측정하여 LED 양품 불량 분류

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